地質(zhì)雷達的應用:斷層破碎帶、裂隙帶、富水帶、巖溶洞穴等。斷層是一種破壞性的地質(zhì)結構，通常包括破碎的巖體、泥漿或地下水。介質(zhì)不均勻，電性差異較大。此外，斷層兩側的巖體通常具有結構和褶皺發(fā)育，介質(zhì)均勻性較差。裂紋帶通常存在于斷層影響帶、巖脈和弱夾層中。裂紋中也有各種不均勻的填充物，介電差異很大。它們通常具有明顯的反射界面，這為地質(zhì)雷達創(chuàng )造了良好的應用條件。在斷層或裂隙帶中，其地質(zhì)雷達圖像和波形特征相似，通常表現為斷層和裂隙界面反射強烈，反射面附近振幅明顯增 大，變化較大；能 量群分布不均勻，破碎帶和裂隙帶內經(jīng)常出現繞射、散射、波形雜亂、同相軸斷裂，甚至深 度模糊；電磁波能 量衰減快，規律性差，尤其是高頻部分衰減快，自動(dòng)增益梯度大；一般反射波與相軸的連接位置為破碎帶或裂隙帶。盡管兩者的雷達特征圖像相似，但通過(guò)對比分析可以大致區分它們：
a.斷層破碎帶的影響范圍一般比裂隙帶寬，地質(zhì)雷達圖像有較寬的異常反應。雷達圖像上的裂隙帶異常一般表現為比較窄的條帶。
b.斷層破碎帶的波幅變化范圍通常大于裂隙帶，裂隙帶的振幅一般較高。
c.在相對干燥的情況下，斷層破碎帶在地質(zhì)雷達圖像上的同相軸的連續性不如裂紋帶，其同相軸斷裂更明顯，波形更混亂，地質(zhì)雷達圖像上同相軸的裂紋帶的連續性反映了裂紋表面是否平坦和連續。
d.在檢測過(guò)程中，我們可以參考當地地質(zhì)背景數據和鉆井數據，對可能的地質(zhì)現象做出一般判斷，為圖像解釋時(shí)識別這兩種地質(zhì)現象提供依據。
地下水通常存在于斷層帶、裂隙密集帶和巖溶發(fā)育帶中，其含水量和儲存條件主要由結構控制。在普通物質(zhì)中，水的大相對介電常數為80，與基巖介質(zhì)相比具有明顯的電性差異。富水帶地質(zhì)雷達圖像和波形特征一般表現為：地質(zhì)雷達波在含水層表面 具有強振幅反射；當電磁波穿透含水層時(shí)，會(huì )產(chǎn)生一定規律的多重強反射，在富水帶內產(chǎn)生繞射和散射，并覆蓋對富水帶內及較深巖體的檢測；電磁波頻率由高頻向低頻變化，脈沖周期顯著(zhù)增加，電磁波能 量迅速衰減，能 量群分布不均，自動(dòng)增益梯度很大；由于含水面通常連續分布，反射波與相軸連續性好，波形相對均勻；從基巖到含水層是高阻抗到低阻抗介質(zhì)的變化，因此反射電磁波與入射電磁波相反。
巖溶洞穴通常出現在灰巖地層中。洞穴可能是空的，含有水或填充其他物質(zhì)。其地質(zhì)雷達圖像和波形特征通常表現為：巖溶洞穴在地質(zhì)雷達圖像中的形態(tài)特征主要取決于洞穴的形狀、大小和填充物的性質(zhì)。一般來(lái)說(shuō)，它是由許多雙曲線(xiàn)強反射波組成的；在洞穴的側壁上，通常有高、低頻和等頻的多次反射波組，特別是當沒(méi)有填充物或充滿(mǎn)水時(shí)，反射波更強，而洞穴的底部界面反射不明顯。只有當洞穴底部充滿(mǎn)水或粘土、粉砂和礫石物質(zhì)時(shí)，底部反射波才會(huì )增強，這表明一組短周期的細微和弱反射；如果洞穴是空的或充水的，洞穴 內部幾乎沒(méi)有反射電磁波；當有填充物時(shí)，電磁波能 量迅速衰減，高頻部分被吸收，反射多為低頻波，自動(dòng)增益梯度大。其典型的地質(zhì)雷達特征圖。巖溶洞的地質(zhì)雷達圖像特征相對明顯，相對明顯易于判斷。一般來(lái)說(shuō)，可以根據當地巖體類(lèi)型、水文地質(zhì)數據和早期巖溶地質(zhì)調查數據進(jìn)行準確解釋。簡(jiǎn)要總結了上述典型地質(zhì)現象與地質(zhì)雷達圖像和波形特征之間的對應關(guān)系。
結合鉆探地區的工程勘探，結合鉆探和其他材料勘探數據，更準確地解釋了地質(zhì)雷達特征圖像與典型地質(zhì)現象之間的對應關(guān)系。當早期地質(zhì)、水文和鉆井數據不完善時(shí)，借助這種地質(zhì)雷達圖像識別經(jīng)驗和其他物理探測方法，也可以大限度地降低多分 解，提高解釋的準確性。
